Chroma ATE демонстрирует передовые технологии тестирования, способствующие революции искусственного интеллекта, на выставке SEMICON Taiwan 2023

Новости предоставлены

30 августа 2023 г., 07:00 по центральному поясному времени

Поделиться этой статьей

ТАОЮАНЬ, 30 августа 2023 г. /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., ведущий поставщик оборудования для автоматизированных испытаний, принимает участие в выставке SEMICON Taiwan 2023. Компания представит серию инновационных тестовых решений с упором на искусственный интеллект (ИИ). ), высокопроизводительных вычислений (HPC), автомобильной промышленности и приложений AIoT, направленных на удовлетворение постоянно растущих потребностей в тестировании полупроводников.

Передовые решения SoC/аналогового тестирования

SoC/аналоговая испытательная система Chroma 3650-S2 — это высокопроизводительная платформа для тестирования силовых ИС, которая отвечает потребностям современных высоковольтных, сильноточных и сложных цифровых управляющих силовых ИС. Он оснащен до 768 цифровыми входами/выходами и аналоговыми контактами с мощностью источника питания до 3000 В или 320 А, скоростью передачи данных 200 Мбит/с и точностью размещения границ 300 пс (EPA). Это идеальный выбор для тестирования ИС системы управления литиевыми батареями (BMS), ИС управления питанием (PMIC), а также силовых ИС, связанных с GaN и SiC.

Усовершенствованная система тестирования SoC Chroma 3680 эффективно отвечает потребностям тестирования новейших микросхем, используемых в искусственном интеллекте и автомобильных технологиях. Система обеспечивает до 2048 контактов ввода-вывода со скоростью передачи данных до 1 Гбит/с, поддерживает векторную память SCAN до 16 ГБ и предлагает пользователям на выбор различные тестовые модули. Он способен одновременно выполнять тесты цифровой логики, параметрического тестирования, питания, памяти, смешанных сигналов и радиочастотной беспроводной связи.

Решения для тестирования радиочастотных чипов

Автоматизированные испытательные системы Chroma 3680/3380/3300, интегрированные с RFIC-тестером модели 35806, предлагают комплексное решение для тестирования радиочастотных (RF) чипов, которое уже было проверено для массового производства нашими клиентами. Это усовершенствованное решение поддерживает ряд приложений, включая Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, а также стандарты связи GPS/BeiDou и Tuner & PA IoT. Примечательно, что он оснащен модулем VSG/VSA со сверхвысокой полосой частот и покрытием от 300 тыс. до 6 ГГц, что делает его пригодным для широкого спектра новых стандартов беспроводной связи.

Решение для трехтемпературных испытаний SLT

Chroma 31000R-L — это трехтемпературная испытательная система, разработанная для удовлетворения самых строгих требований термических испытаний. Благодаря возможности стабильного контроля температуры в диапазоне от -40°C до +150°C и охлаждающей способности тестируемого устройства (DUT) до 1800 Вт, эта система является идеальным выбором в качестве высококачественного решения для испытаний IC Tri-Temp.

Chroma 31000R-L можно легко сочетать с такими моделями Chroma, как 3210, 3110, 3260 и 3200, обеспечивая комплексное трехтемпературное испытательное решение SLT (тестирование на системном уровне), подходящее как для лабораторных, так и для производственных условий. Тестовое решение Tri-Temp от Chroma обслуживает широкий спектр передовых и высокопроизводительных приложений микросхем, включая автомобильную промышленность, искусственный интеллект и центры обработки данных, графические процессоры, APU, высокопроизводительные вычисления, аэрокосмическую и оборонную промышленность. Разработанный для обеспечения безупречной работы микросхем в суровых условиях, он является оптимальным выбором для тестирования надежности продукции.

Защитник качества изоляции силовых полупроводниковых приборов

Силовые полупроводниковые устройства (например, IGBT, SiC-MOSFET) используются в различных областях, где обычно используются высокие мощности/большие токи для цепей преобразования/управления мощностью, а изоляторы (например, оптопары, цифровые изоляторы) используются в средах, где напряжение разница между двумя сторонами (т.е. первичной стороной и вторичной стороной) должна быть изолирована. Поскольку между этими компонентами возникают более высокие разности напряжений или разности потенциалов, очень важно гарантировать, что эти компоненты могут поддерживать хорошую изоляцию по напряжению в нормальных условиях эксплуатации и не имеют постоянного частичного разряда (ЧР), который может привести к ухудшению изоляции. Тестер частичных разрядов серии Chroma 19501 соответствует требованиям стандарта IEC 60270-1 к измерению частичных разрядов, а в приборе заложены методы испытаний, указанные в нормативах. Он может выполнять тест AC Hipot (макс. 10 кВ переменного тока) и измерение частичного разряда (макс. 6000 пКл), что может эффективно гарантировать качество и надежность долгосрочной работы силовых полупроводниковых приборов и изоляторов.